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Wafer Bump&Wire Bonding 3D AOI

Wafer Bump&Wire Bonding 3D AOI

  • 所屬分類：光學檢測儀 3D AOI

    • 技術特點：
  • 在線詢價
  • 詳細介紹

3D Wafer Bump（晶元錫焊）、Wire Bonding（引線鍵合）AOI檢測系統(tǒng)

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高精度3D Wafer（晶元）檢測精密解析度配置可實現(xiàn)針對Foot形態(tài)元件的整體檢測

可直接檢測鏡面元件，避免反光問題

奔創(chuàng)特有的3D技術 實現(xiàn)元件的精準3D成型，機器鏡頭采用同軸照明輔助2D檢測。

支持SIP/FCBGA/FOWLP/FOPLP/WLCSP等各種封裝方式的解決方案

AOI + SPI 混合檢測系統(tǒng)

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精密解析度實現(xiàn)針對Bump、Mini LED、009004等各種微型、密集型元件的3D檢測 

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本文網(wǎng)址：http://tx24.cn/product/911.html

關鍵詞：3DAOI,WaferBump,WireBonding

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